„Cyfrowa radiografia i tomografia komputerowa w odlewnictwie” jednym z tematów targów METAL 2016

Rentgenowski system inspekcyjny X Cube będzie omawiany podczas seminarium w trakcie
targów METAL 2016 w Targach Kielce

W czasie XXI Międzynarodowych Targów Technologii dla Odlewnictwa METAL 2016, w dniach 20-21 września w sali konferencyjnej Gamma odbędzie się seminarium "Cyfrowa radiografia i tomografia komputerowa w odlewnictwie", poświęcone wykorzystaniu radiografii i tomografii w badaniach NDT. Seminarium organizowane przez ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. to doskonała okazja do wymiany informacji oraz doświadczeń w zakresie wykorzystywania najnowocześniejszych technologii, wpływających na poprawę jakości wyrobów. W trakcie wydarzenia poruszane będą również tematy związane ze skanowaniem odlewów z wykorzystaniem optycznych laserowych skanerów 3D. Podczas seminarium zostaną zaprezentowane konkretne rozwiązania produktowe.

Rentgenowski system inspekcyjny X Cube firmy GE wyposażony w lampę 320 kV

To wszechstronny system rentgenowski Seifert x|cube do inspekcji w czasie rzeczywistym 2D z opcją tomografu 3D. Swoje zastosowanie znajduje nie tylko podczas inspekcji ważnych z punktu bezpieczeństwa odlewów w przemyśle samochodowym i lotniczym. Stosuje się go we wszystkich dziedzinach przemysłu, w których występuje potrzeba wykonywania szybkiej i efektywnej inspekcji rentgenowskiej odlewów, struktury spoin, tworzyw sztucznych, ceramiki czy stopów specjalnych. Możliwe jest jego wykorzystanie na etapie produkcji, kontroli materiałów przychodzących, jak również analizy przyczyny awarii. Mocna konstrukcja oraz oprogramowanie zapewniające bezpieczeństwo są idealne dla szybko rozwijających się obszarów przemysłu. System inspekcji Seifert jest teraz szybszy, bardziej elastyczny i prostszy w użyciu, oferując opcje tomografii komputerowej podczas gdy radioskopia 2D jest w stanie dać jasne wyniki.

Skaner przestrzenny HandyScan firmy Creaform

Linia skanerów HandySCAN to lekkie i proste w obsłudze ręczne skanery firmy Creaform. Przeznaczone do wykonywania szybkich pomiarów obiektów trójwymiarowych w celach inspekcyjnych oraz inżynierii odwrotnej. Działają w oparciu o technologie laserową co umożliwia skanowanie powierzchni obrobionych, trudnych do zeskanowania skanerami działającymi w oparciu o technologię światła białego. Posiadają dużą rozdzielczość i dokładność co klasyfikuje je w kategorii skanerów metrologicznych.

Program seminarium:

10:00 – „Powitanie i prezentacja organizatora firmy ITA”

10:15 - „Wykorzystanie kabiny rentgenowskiej X-Cube w badaniu odlewów”

10:45 – „Wykorzystanie skanerów Creaform w badaniu odlewów”

11:15 – Przerwa kawowa

11:30 – „Development for 2D Inspection and 3D CT Inspection for Foundry Production”

12:00 – „Wykorzystanie tomografii rentgenowskiej w badaniach odlewów”

12:30 – „Praktyczne wykorzystanie urządzenia v|tome|x S 240 w badaniu odlewów”

12:50 – podsumowanie / zakończenie seminarium części teoretycznej – zaproszenie do części praktycznej na stoisku firmy ITA

13:00 – 15:00 – Zajęcia praktyczne z wykorzystaniem systemu x|cube na stoisku firmy ITA, pawilon E, stoisko nr 12

REJESTRACJA TRWA!

Więcej informacji na stronie:  www.ita-polska.com.pl/seminaria